透射電鏡

Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM，透射電鏡可以觀察樣品的內(nèi)部精細結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)即亞顯微結(jié)構(gòu)或者超微結(jié)構(gòu)。透射電鏡使用的是透射電子，并收集透過樣品的電子，從而提供了樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息，如晶體結(jié)構(gòu)、形態(tài)以及應力狀態(tài)的信息。目前最先進的TEM其空間分辨率達到了pm級別。由于透射電子的要求，TEM的樣品必須制備成超薄切片，通常為50-100 nm，樣品制備比較繁瑣，常用的方法有超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。

實驗意義

電鏡利用電子束作光源，用電磁作透鏡，經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，形成明暗不同的影像，電鏡在中和物理學和生物學相關(guān)的許多科學領(lǐng)域都是重要的分析方法，如基礎(chǔ)醫(yī)學研究、病毒學、材料科學、以及納米技術(shù)、半導體研究等等。

實驗步驟

1.取材固定

2.包埋脫水

3.聚合/超薄切片

4.染色

5.電子顯微鏡下觀察采圖。

結(jié)果展示

實驗完成周期及交付標準

1. 實驗周期：5-6周

2. 交付標準：電鏡圖片、實驗報告（實驗步驟、試劑、儀器等）

實驗需與客戶確認的信息

1. 樣本的種屬

2. 樣本類型，是組織還是細胞

3. 樣本數(shù)量

4. 透射電鏡分析要求、拍照要求或是參考文獻